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半導(dǎo)體測試生產(chǎn)管理特性

發(fā)布:探針臺(tái) 2019-08-14 10:13 閱讀:3094
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我國半導(dǎo)產(chǎn)業(yè)為一個(gè)垂直分工十分細(xì)膩且資本密集、技術(shù)密集的特殊產(chǎn)業(yè),而IC測試廠則屬于這整個(gè)垂直分工體系的下游產(chǎn)業(yè)。正由于這種環(huán) 環(huán)相扣的分工體系,使半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)對(duì)外在環(huán)境的變動(dòng)影響十分敏感。例如某個(gè)晶圓制造廠的短時(shí)間意外跳電,影響晶圓產(chǎn)出,這便會(huì)在兩三天后造成下游產(chǎn)業(yè)的劇烈變動(dòng),因此在這個(gè)產(chǎn)業(yè)中,無論是上游廠家或下游廠家,都有著「不要把所有雞蛋放于同一籃」的風(fēng)險(xiǎn)分散心態(tài),以測試廠本身的心態(tài)來說,其服務(wù)對(duì)象絕不僅限于幾家固定的客戶上。為了分散貨源,避免上游主要客戶臨時(shí)發(fā)生問題(如一些天災(zāi)、人+禍所造成產(chǎn)品無法如期出貨)使測試廠無貨可測的危機(jī),都會(huì)積極的爭取任何一張可能的訂單,不錯(cuò)失任何增加新客戶的機(jī)會(huì)。 MNd8#01q`  
測試廠因?yàn)槲挥谡麄(gè)IC產(chǎn)業(yè)中的下游,其接單比較類似于買方市場導(dǎo)向型式,即對(duì)上游廠家并沒有太大的約束力,測試廠只能隨時(shí)等待上游廠商將待測品送來,而無法更進(jìn)一步要求上游廠商何時(shí)送來。 ^y:!=nX^  
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下面是將IC測試廠的共通的生產(chǎn)管理特性經(jīng)匯總后,列點(diǎn)描述。 Dn/{  s$\  
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一、沒有屬于自己產(chǎn)品的制造服務(wù)業(yè)測試廠本身并不生產(chǎn)制造東西,它并沒有自己的產(chǎn)品,而是以接訂單的方式來販賣工廠產(chǎn)能,它的系統(tǒng)行為主要是對(duì)上游廠商送來的待測產(chǎn)品進(jìn)行「電性功能上的測試」(前段測試流程)及「外觀上的檢驗(yàn)」(后段測試流程),本質(zhì)上是屬于服務(wù)業(yè)的,有著服務(wù)業(yè)里顧客要求至上的營業(yè)精神在其中,上游廠商的待測品來到時(shí)點(diǎn)并無限制,24小時(shí)都可以入庫,而測試廠現(xiàn)場也是采取四二輪的工作方式,24小時(shí)的在進(jìn)行測試作業(yè)。由于本產(chǎn)業(yè)并無自己的產(chǎn)品,在廠中流動(dòng)的產(chǎn)品也都是顧客提供的,其機(jī)臺(tái)服務(wù)產(chǎn)能無法以「半成品」型態(tài)保存。因此傳統(tǒng)以物料需求計(jì)劃(MRP)為核心的生產(chǎn)規(guī)劃方式無法直接應(yīng)用于本產(chǎn)業(yè)。 ^W!w~g+  
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二、以接訂單的方式進(jìn)行測試服務(wù)測試廠是以接訂單的方式來進(jìn)服務(wù),在廠內(nèi)的測試流程中,物流的移動(dòng)也是以測試批為單位,而測試批的大小并不一致。但出貨時(shí)卻有兩種不同的作法,一是以測試批為單位來出貨,一是以待測品良品數(shù)來發(fā)貨;后者發(fā)生的主因在于測試廠是位于整個(gè)IC制造流程里最后一站,因而有些客戶便它視為發(fā)貨中心(倉庫),當(dāng)客戶有任何發(fā)貨的需求時(shí),便通知測試廠,要求在何時(shí)何地要什么產(chǎn)品多少顆,此時(shí)測試廠出貨時(shí)便要以產(chǎn)品的良品顆數(shù)為出貨單位處理,在生管排程的處理上,此時(shí)在 進(jìn)行測試批測試時(shí),便要可量此測試批的歷史良率值當(dāng)作「投料數(shù)量」的參考,以確保完測的良品IC數(shù)達(dá)到所需要求。 a&oz<4oT  
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三、注重客戶多樣化的服務(wù)IC測試是一個(gè)以滿足客戶要求為主的買方市場產(chǎn)業(yè),而為使測試廠能實(shí)時(shí)的滿足各個(gè)客戶不同的需求(包括各式的出貨包裝、出貨運(yùn)送型式、測試流程調(diào)整變動(dòng)等),又要同時(shí)顧及本身營運(yùn)的效率為競爭力,必須在廠內(nèi)包括測試流程、管理體制、產(chǎn)能及人力調(diào)度都要保持高度的彈性,當(dāng)然這對(duì)于測試的生產(chǎn)管理是一大挑戰(zhàn)。 Q'-g+aN  
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四、測試批測試流程的多樣性測試批的測試流程,隨著測試品的IC產(chǎn)品特性不同,其測試時(shí)所需 要的測試機(jī)臺(tái)、測試程序、測試配件(Handler/Loadboard)等及所需的測試作業(yè)項(xiàng)目都不盡相同,這些測試流程,隨著客戶的需求而調(diào)整,因此各個(gè)測試批雖屬同一個(gè)測試產(chǎn)品,但可能會(huì)擁有不同的測試流程。因此在測試廠內(nèi),以測試批為單位,每個(gè)測試批均會(huì)擁有一張「流程卡」,說明此測試批的所有測試流程作業(yè),此卡會(huì)隨著測試批在廠內(nèi)移動(dòng),在其上會(huì)記載著此測試批測試的所有過程及測試結(jié)果,它在現(xiàn)廠為一個(gè)重要的物流移動(dòng)通行證,而對(duì)管理者及工程為言,也反應(yīng)出此測試批的測試過,為診斷測試批測試結(jié)果有異,F(xiàn)象時(shí),提供很好的判斷訊息。 ZH6#(;b  
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五、待測品Lot的大小,在客戶同意前,不能任意分割或合并待測品Lot的大小,取快于客戶對(duì)于此批待測品是否看重測試品測試結(jié)果的認(rèn)證,因?yàn)槿缫獪?zhǔn)確的收集同一個(gè)Lot生產(chǎn)IC的良率,需使此批在測試時(shí)的各種測試環(huán)境(包括使用同一臺(tái)測試機(jī)臺(tái)、同一臺(tái)Handler等),也因此客戶會(huì)很清楚的告訴廠方不可任意的分割他們送來的測試批大。▏饪蛻粢话憔鶗(huì)作此要求)。但如果客戶只是專注于挑出Lot中的不同電性的IC,則便會(huì)同意分批的動(dòng)作,也就是一個(gè)很大的Lot可以任由生管人員視現(xiàn)場狀況,分解成數(shù)小批,同時(shí)在現(xiàn)場進(jìn)行測試,當(dāng)然比較下,分批后,原Lot測試結(jié)果的質(zhì)量認(rèn)證較為困難,但相對(duì)的,因?yàn)長ot 比小,因此在生產(chǎn)排程時(shí),有著較大的彈性,可使測試批的完測時(shí)間縮短。 \$;