科技回報社會，為感謝社會各界對我中心的支持和信任，現(xiàn)回報一個月的免費FIB測試。 {9Mdt`WL  
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FIB是什么？ Sd\
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FIB中文名稱聚焦離子束，英文名Focused Ion beam。是將液態(tài)金屬離子源產生的離子束經過離子槍加速，聚焦后照射于樣品表面產生二次電子信號取得電子像，此功能與SEM（掃描電子顯微鏡）相似，或用強電流離子束對表面原子進行剝離，以完成微、納米級表面形貌加工。 03QEXm~|Q  
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FIB能做什么事？ 9U<)_E<y  
FIB是微納米分析測試的重要方式，主用應用領域有： lDJd#U'V  
1. IC芯片電路修改 22/?JWL>  
2. Cross-Section 截面分析 }1]!#yMfq