驗(yàn)證及量測
半導(dǎo)體電子組件的電性、
參數(shù)及特性。比如電壓-電流。集成
電路失效分析流程中,I/V Curve的量測往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在第一步),可見Curve量測的重要性。
BIjkW.uf Fma#`{va 服務(wù)范圍:
封裝測試廠,SMT領(lǐng)域等
mfgUf B5#>ieM* i#Z#(D
`m 服務(wù)內(nèi)容:1.Open/Short Test
JuRx>F4 2.I/V Curve Analysis
4 :M}Vz- 3.Idd Measuring
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