芯片線路修改免費測試
科技回報社會,為感謝社會各界對我中心的支持和信任,現(xiàn)回報一個月的免費FIB測試。 FIB是什么? FIB中文名稱聚焦離子束,英文名Focused Ion beam。是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速,聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號取得電子像,此功能與SEM(掃描電子顯微鏡)相似,或用強電流離子束對表面原子進行剝離,以完成微、納米級表面形貌加工。 ![]() FIB線路修改 FIB能做什么事? FIB是微納米分析測試的重要方式,主用應(yīng)用領(lǐng)域有: 1. IC芯片電路修改 2. Cross-Section 截面分析 3. Probing Pad 4. FIB透射電鏡樣品制備 5. 材料鑒定 |