X射線(X-ray)檢測(cè)是在不損壞被檢物品的前提下使用低能量X 光，快速檢測(cè)出被檢物。 Oo7n_h1  
利用高電壓撞擊靶材產(chǎn)生X射線穿透來檢測(cè)電子元器件、半導(dǎo)體封裝產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)構(gòu)造品質(zhì)、以及SMT各類型焊點(diǎn)焊接質(zhì)量等[1] 。 %NeKDE  
型號(hào)：XD7500NT mXhr: e  
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圖片:x-ray (3).png

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參考標(biāo)準(zhǔn)：《IPC-A-610E電子組裝件的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)》、《GB/T 17359-1998電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析方法通則》