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芯片分析分析步驟

發(fā)布:探針臺(tái) 2019-06-03 09:09 閱讀:1233
1.一般先做外觀檢查,看看有沒(méi)有crack,burnt mark 什么的,拍照; I\$?'q>  
2.非破壞性分析:主要是xray--看內(nèi)部結(jié)構(gòu),超聲波掃描顯微 )bK3%>H#  
鏡(C-SAM)--看有沒(méi)delaminaTIon,等等; e+wINW  
3.電測(cè):主要工具,IV,萬(wàn)用表,示波器,sony tek370b; mC!^`y)