2018中科院上海光機(jī)所光學(xué)檢測(cè)與加工高級(jí)培訓(xùn)班(第十屆)
培訓(xùn)時(shí)間: 2018年10月21-26日(21日?qǐng)?bào)到) 培訓(xùn)地點(diǎn): 上課地點(diǎn):中科院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所 (上海市嘉定區(qū)清河路390號(hào)) 培訓(xùn)老師: 沙定國(guó) 教 授 北京理工大學(xué) 趙維謙 教 授 北京理工大學(xué) 陳 磊 研究員 南京理工大學(xué) 沈衛(wèi)星 高級(jí)工程師 中科院上海光機(jī)所 沈 良 高級(jí)實(shí)驗(yàn)師 中科院上海光機(jī)所 授課內(nèi)容大綱 光學(xué)檢測(cè)基礎(chǔ)知識(shí)與常規(guī)檢測(cè) 一、光學(xué)檢測(cè)的計(jì)量基礎(chǔ)知識(shí)與技能要求 1、計(jì)量學(xué)(測(cè)量科學(xué)與應(yīng)用)概述 2、誤差理論與數(shù)據(jù)處理概述 二、 光學(xué)材料與元件檢測(cè)技術(shù)(波段涵蓋紫外到紅外) 1、材料與平面元件檢測(cè)技術(shù) 2、球面元件 3、非球面元件 三、 光學(xué)系統(tǒng)檢測(cè)技術(shù) 1、 光學(xué)系統(tǒng)中心偏檢測(cè) 2、星點(diǎn)像檢測(cè) 3、分辨率檢測(cè) 4、波像差檢測(cè)(Shack-Hartman法等非相位干涉檢測(cè)) 5、MTF測(cè)量 6、光度與色度性能檢測(cè)(透過(guò)率、雜光及照度分布檢測(cè)) 7、成像與非成像性能評(píng)測(cè) 激光共焦成像檢測(cè)技術(shù) |