Simulator是Essential Macleod的新增功能, 可以幫助我們回答這個(gè)問(wèn)題。 1NOz $fW  
光學(xué)薄膜中的公差評(píng)定是個(gè)實(shí)際問(wèn)題。沒(méi)有一個(gè)好的、通用的分析技術(shù)。Essential Macleod里的一個(gè)簡(jiǎn)單工具－Errors, 假定所有膜層中的厚度誤差都是隨機(jī)的，能夠顯示在許多薄膜中獨(dú)立控制命令不可能精確，而用其它的方法確實(shí)能夠構(gòu)造這些薄膜。實(shí)事上，公差和誤差的影響很大程度上依賴于控制技術(shù)。通過(guò)將誤差的Monte Carlo近似擴(kuò)展到控制過(guò)程的實(shí)際模型中去，Simulator解決了公差問(wèn)題。 PL+fLCk,I  
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使用由Runsheet創(chuàng)建的控制設(shè)計(jì), Simulator模擬沉積的控制，同時(shí)引入隨機(jī)和系統(tǒng)效應(yīng)，如信號(hào)中的噪聲，加工因素的不同，材料密度誤差等等，并且顯示這些參數(shù)對(duì)最后模擬的薄膜產(chǎn)品的影響。 Ha C?,  
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