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  • 如何設(shè)計增透膜?

    作者:時生 來源:中科院半導(dǎo)體所 時間:2023-02-27 12:14 閱讀:8034 [投稿]
    設(shè)計光學(xué)薄膜主要是確定兩點(diǎn):一點(diǎn)是選擇薄膜的厚度,另一點(diǎn)是選擇折射率匹配的材料。

    如果要在特定波長獲得合適的減反效果,就需要計算特定波長處折射率隨薄膜厚度的變化。這里作為示范計算了1550 nm處反射率隨Ge層厚度變化的曲線。通過計算可以得知反射率無論如何也不會被降至0,但是有一系列最小值和最大值。Ge可以吸收1550 nm的紅外光,所以不可能被用來制作減反射層,其他常用的減反射層有石英,氟化鎂等材料。


    參考文獻(xiàn):1.唐晉發(fā) 顧培夫 劉旭 李海 峰. 現(xiàn)代光學(xué)薄膜技術(shù). 浙江大學(xué)出版社, 2006.

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