近日，中國科大物理學院光電子科學與技術安徽省重點實驗室/合肥微尺度物質(zhì)科學國家研究中心張斗國教授研究組提出并實現(xiàn)了一種基于光學薄膜的平面型顯微成像元件，用作被測樣本的載波片，可在常規(guī)的明場光學顯微鏡上實現(xiàn)暗場顯微成像和全內(nèi)反射成像，而獲取高對比度的光學顯微圖像。研究成果以“Planar photonic chips with tailored angular transmission for high-contrast-imaging devices”為題發(fā)表在綜合性學術期刊Nature Communications。

光學顯微鏡是利用光學原理，把人眼不能分辨的微小物體放大成像，進而拓寬人類觀察物質(zhì)結構的空間尺度范圍。通用的光學顯微鏡是明視場顯微鏡（Brightfield Microscopy），它利用光線照明，樣本中各點依其光吸收的不同在明亮的背景中成像。但對于一些未經(jīng)染色處理的生物標本或者其他透明樣本，由于對光線的吸收很少，因此其明視場顯微鏡像的對比度差，難以觀測。為了解決這個問題，科學家們發(fā)展出暗視場顯微鏡（Darkfield Microscopy）：它的照明光線不直接進入成像物鏡，只允許被樣品反射和衍射的光線進入物鏡。無樣品時，視場暗黑，不可能觀察到任何物體；有樣品時，樣品的衍射光與散射光等在暗的背景中明亮可見，因此其成像對比度遠高于明場光學顯微鏡，如圖1a所示。另外一個解決方案是，利用光線全反射后在介質(zhì)另一面產(chǎn)生衰失波（又稱表面波）來照明樣品，無樣本時，衰失波光強在縱向呈指數(shù)衰減的特性使得其不會輻射到遠場，視場暗黑；有樣品時候，衰失波會被散射或衍射到遠場，從而在暗背景下形成物體的明亮像，該顯微鏡被稱為全內(nèi)反射顯微鏡（Total internal reflection microscopy, TIRM）,同樣可以提高成像對比度。衰失波光強在縱向呈指數(shù)衰減的特性，只有極靠近全反射面的樣本區(qū)域會被照明，大大降低了背景光噪聲干擾觀測標本，故此項技術廣泛應用于物質(zhì)表面或界面的動態(tài)觀察，如圖1b所示。

但這兩種顯微鏡都需要復雜的光學元件，如暗場顯微鏡需要一個特殊的聚光鏡來實現(xiàn)照明光以大角度入射到樣品；全內(nèi)反射顯微鏡需要高折射率棱鏡或高數(shù)值孔徑顯微物鏡來產(chǎn)生光學表面波；這些元件體積較大，不易集成；同時成像效果嚴格依賴于光路的精確調(diào)節(jié)，增加了其操作復雜度。

圖1.傳統(tǒng)暗場照明（a）與全內(nèi)反射照明（b）光學顯微鏡，基于光學薄膜結構的顯微成像照明元件（c）

本論文提出的種基于光學薄膜的平面型顯微成像元件可有效彌補這些不足。如圖1c所示為該元件結構示意圖，主要包含三部分：中間部分是摻雜有高折射率散射納米顆粒的聚合物薄膜，利用納米顆粒的無序散射來拓展入射光束的傳播角度范圍；上部和下部是由高低折射率介質(zhì)周期性排布形成的光學薄膜，利用其來調(diào)控出射光束的角度范圍。通過光子帶隙設計，下部光學薄膜只允許垂直入射的光束透過，其他角度光束的都被抑制；上部光學薄膜在750 nm波長入射下，只有大角度的光束才能透射；在640 nm波長下任何角度的光都不能透射，只能產(chǎn)生全內(nèi)反射。