CODE V中的這些選項(xiàng)和分析工具很容易使用。在這個(gè)例子中，這些選項(xiàng)和分析功能展示了如何反映基于“增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)”技術(shù)的光學(xué)系統(tǒng)作為可行性水平的合理設(shè)計(jì)，讓一個(gè)好的設(shè)計(jì)起點(diǎn)適合于作為HMD視覺(jué)光學(xué)投影系統(tǒng)做進(jìn)一步研究。 

在CODE V中使用2D-Q自由曲面優(yōu)化的注意事項(xiàng)

在設(shè)計(jì)的早期，就應(yīng)該考慮到封裝問(wèn)題，機(jī)械的約束不會(huì)妨礙你的光學(xué)解決方案。CODE V有強(qiáng)大的功能，支持在優(yōu)化過(guò)程中對(duì)光線間隙進(jìn)行控制。

由于優(yōu)化這類(lèi)系統(tǒng)的復(fù)雜性，多次運(yùn)行局部?jī)?yōu)化序列可能比運(yùn)行單個(gè)優(yōu)化更容易成功。CODE V中的導(dǎo)數(shù)縮放功能有助于避免誤差函數(shù)空間中的深谷，從而有利于找到更好的解決方案。

EFL約束應(yīng)該用ABCD矩陣計(jì)算來(lái)管理(可在CODE V中得到)，因?yàn)榻�軸值通常對(duì)折疊、傾斜、偏心和非旋轉(zhuǎn)對(duì)稱(chēng)系統(tǒng)無(wú)效。

將自由曲面的X、Y偏移量限制在合理的斜率偏差（slope departure）的值內(nèi)(以幫助加工)。CODE V提供了在優(yōu)化過(guò)程中評(píng)估和控制每個(gè)表面的入射角的工具。

優(yōu)化過(guò)程中應(yīng)保持合理的歸一化半徑值。設(shè)計(jì)者可以設(shè)置用戶(hù)自定義約束來(lái)控制歸一化半徑與最大表面孔徑的比率。

對(duì)于2D-Q表面，建議使用邊界框和/或邊緣孔徑。這些限制了光線相交的區(qū)域，以幫助在追跡緊湊折疊幾何時(shí)的雜散光路徑最小化。 

總結(jié)

CODE V提供了一種新的基于Forbes 2D-Q型多項(xiàng)式的自由曲面面型。2D-Q曲面可以幫助工程師解決具有挑戰(zhàn)性的設(shè)計(jì)問(wèn)題，同時(shí)也為光學(xué)系統(tǒng)的制造提供了更容易加工的曲面形狀。利用這種表面，我們展示了一個(gè)全反射AR成像設(shè)備的光學(xué)設(shè)計(jì)實(shí)例，達(dá)到可行性水平。這個(gè)例子顯示了CODE V在光學(xué)設(shè)計(jì)優(yōu)化中使用這種新的表面類(lèi)型的能力，為光學(xué)工程師提供了一個(gè)解決當(dāng)今具有挑戰(zhàn)性設(shè)計(jì)問(wèn)題的優(yōu)秀選擇。