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  • 2020中科院上海光機(jī)所光學(xué)檢測(cè)高級(jí)培訓(xùn)班(第十二屆)

    作者:《中國(guó)激光》雜志社 來(lái)源:投稿 時(shí)間:2020-08-14 11:32 閱讀:17509 [投稿]
    中科院上海光機(jī)所光學(xué)系列培訓(xùn)旨在做領(lǐng)先于行業(yè)領(lǐng)域的高級(jí)培訓(xùn)班,每年會(huì)根據(jù)行業(yè)領(lǐng)域的需求適時(shí)增加相關(guān)熱門技術(shù)內(nèi)容以適應(yīng)時(shí)代發(fā)展需求。相比于同類培訓(xùn),中科院上海光機(jī)所光學(xué)系列培訓(xùn)更注重剖析項(xiàng)目案例,傳授老師真實(shí)項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn),培養(yǎng)學(xué)員對(duì)于項(xiàng)目的整體構(gòu)思能力。

    中科院上海光機(jī)所光學(xué)系列培訓(xùn)旨在做領(lǐng)先于行業(yè)領(lǐng)域的高級(jí)培訓(xùn)班,每年會(huì)根據(jù)行業(yè)領(lǐng)域的需求適時(shí)增加相關(guān)熱門技術(shù)內(nèi)容以適應(yīng)時(shí)代發(fā)展需求。相比于同類培訓(xùn),中科院上海光機(jī)所光學(xué)系列培訓(xùn)更注重剖析項(xiàng)目案例,傳授老師真實(shí)項(xiàng)目經(jīng)驗(yàn),培養(yǎng)學(xué)員對(duì)于項(xiàng)目的整體構(gòu)思能力。

    培訓(xùn)時(shí)間:2020年10月18-23日(18日?qǐng)?bào)到)

    培訓(xùn)地點(diǎn):上海光學(xué)精密機(jī)械研究所內(nèi)

    培訓(xùn)對(duì)象

    承擔(dān)大科學(xué)工程的研究人員;

    光電檢測(cè)、光學(xué)加工專業(yè)的研究人員或?qū)W生;

    光電公司從事光學(xué)檢測(cè)、光學(xué)加工的研發(fā)人員;

    承擔(dān)軍工、航天、兵器、通信領(lǐng)域工程項(xiàng)目的研究所人員; 光學(xué)檢測(cè)、光學(xué)加工生產(chǎn)領(lǐng)域的檢驗(yàn)人員。

    培訓(xùn)效果

    掌握專業(yè)要點(diǎn),快速進(jìn)入光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域;

    注重行業(yè)應(yīng)用,增加實(shí)際操控經(jīng)驗(yàn);

    擴(kuò)展研發(fā)視野,提升職業(yè)核心競(jìng)爭(zhēng)力;

    名師現(xiàn)場(chǎng)答疑,解決生產(chǎn)研發(fā)中難題;

    打造一流平臺(tái),營(yíng)造結(jié)識(shí)同行良機(jī);

    頒發(fā)權(quán)威證書,增加求職就業(yè)砝碼。

    授課專家

    沙定國(guó)  教  授   北京理工大學(xué)

    趙維謙  教  授   北京理工大學(xué)

    陳  磊  研究員   南京理工大學(xué)

    沈衛(wèi)星  高級(jí)工程師   中科院上海光機(jī)所

    授課內(nèi)容大綱

    一、光學(xué)檢測(cè)的理論、技能及常規(guī)檢測(cè)技術(shù)

    1、光學(xué)檢測(cè)的發(fā)展歷史回顧

    2、光學(xué)檢測(cè)的物理基礎(chǔ)和計(jì)量基礎(chǔ)

    3、光學(xué)檢測(cè)的能力要求

    4、光學(xué)材料與元件參數(shù)的檢測(cè)技術(shù)

    5、光學(xué)系統(tǒng)性能的檢測(cè)技術(shù)

    6、半導(dǎo)體芯片納米制造業(yè)中的在線光學(xué)檢測(cè) 

    二、激光共焦/干涉測(cè)量新技術(shù)及其應(yīng)用

    元部件參數(shù)的高精度、快速檢測(cè)是高性能制造的關(guān)鍵所在,激光共焦測(cè)量技術(shù)由于具有光學(xué)鄰域獨(dú)特的高分辨、高層析和抗散射能力,近年來(lái)在光學(xué)元件測(cè)量領(lǐng)域開始廣泛應(yīng)用,特別是共焦測(cè)量技術(shù)與干涉測(cè)量技術(shù)的有機(jī)結(jié)合,顯著提升了光學(xué)元件的測(cè)量精度、測(cè)量速度、抗散射能力以及多參數(shù)測(cè)量能力效率,使我們?cè)谝慌_(tái)儀器上首次實(shí)現(xiàn)了球面元件面形、曲率半徑、折射率、透鏡中心厚度、焦距及間隔等參數(shù)的高精度高效測(cè)量等,應(yīng)用前景廣闊。本專題將從共焦測(cè)量和共焦-干涉測(cè)量新原理講解出發(fā),系統(tǒng)講述測(cè)量系統(tǒng)的構(gòu)建及其典型應(yīng)用實(shí)例,具體包括以下幾節(jié):

    1、激光共焦顯微技術(shù)對(duì)科學(xué)技術(shù)研究的推動(dòng)作用

    2、激光差動(dòng)共焦顯微成像技術(shù)及應(yīng)用

    3、激光差動(dòng)共焦干涉元件參數(shù)測(cè)量技術(shù)及應(yīng)用

    4、激光差動(dòng)共焦光譜聯(lián)用成像技術(shù)及應(yīng)用 

    三、光干涉檢測(cè)技術(shù)

    1、干涉基礎(chǔ)知識(shí)

    1)干涉測(cè)量基礎(chǔ)知識(shí)

    2)典型干涉儀介紹

    3)移相干涉技術(shù)

    2、激光干涉儀及應(yīng)用

    1)平面干涉儀及其應(yīng)用

    2)球面干涉儀及其應(yīng)用

    3)非球面干涉檢測(cè)技術(shù)

    3、波前的干涉檢測(cè)技術(shù)

    4、干涉測(cè)量40個(gè)常見問題討論 

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