為了測試我們得到的是一個可信的最優(yōu)解，而不是陷入一個較高的局部最小值，我們將運行錘形優(yōu)化器來優(yōu)化這兩個系統。下表整理的結果表明，DLS優(yōu)化得到了一定的改善，但中心像素亮度仍低于OD算法優(yōu)化得到的像素亮度；進一步說明了這兩個局部優(yōu)化例程的強大功能。在這些測試中使用的機器擁有英特爾四核CPU (2.90 GHz)和16GB運行內存：

初始輻照度和輻射強度分布，以及使用DLS和OD算法優(yōu)化后的分布如下圖所示。

DLS優(yōu)化：

OD優(yōu)化

結果表明，兩種優(yōu)化方法得到的解相似。但值得注意的是，雖然OD算法的優(yōu)化時間比DLS稍長，但所獲得的性能優(yōu)于DLS優(yōu)化和30分鐘錘形優(yōu)化。事實上，優(yōu)化一個包含22個變量和幾個不同照度目標的系統只需要幾分鐘！我們已經在短時間內從一個平面鏡得到一個完全優(yōu)化的解決方案，之后將需要我們進行公差分析和生成系統的圖紙。對具有相同數量變量的序列系統均方根半徑進行優(yōu)化需要同樣的時間。這個例子清楚地說明了OD算法在優(yōu)化非序列系統時的效率。在本文頂部的示例文件鏈接中，您可以找到OD優(yōu)化文件。