2. 基本輻射度量學(xué)-輻射

輻射度量學(xué)術(shù)語(yǔ)

□光通量、功率、光度學(xué)與輻射度量學(xué)

□立體角與投射立體角/亮度/強(qiáng)度/BSDF

PST(點(diǎn)源透射比)

探測(cè)器FOV（反向光線追跡）

面紗眩光指數(shù)（VGI）

系統(tǒng)自發(fā)熱輻射的計(jì)算及分析步驟

冷反射效應(yīng)的分析與控制

3. 雜散光分析中的光線追跡

構(gòu)建雜散光模型

□定義光學(xué)和機(jī)械幾何

□定義光學(xué)屬性

光線追跡

□使用光線追跡來(lái)量化收斂速度

□瞄準(zhǔn)散射射線以增加收斂的速度

□反向光線追跡

□使用探測(cè)器FOV找到雜散光路徑

□控制光線Ancestry以增加收斂速度

□使用蒙特卡洛光線劈裂增加收斂速度

□雜散光對(duì)MTF的影響

4. 來(lái)自RMS表面粗糙的散射

來(lái)自表面粗糙的散射

□RMS粗糙度與BSDF的關(guān)系

□由PSD推導(dǎo)BSDF

□擬合BSDF測(cè)量數(shù)據(jù)

來(lái)自劃痕的的散射