地點(diǎn)時間

主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司 上海訊稷光電科技有限公司 常熟黌論教育咨詢有限公司

授課時間：2018年8月1(三)-3(五)日 AM:9:00 - PM：16:00

授課地點(diǎn)：常熟高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)湖山路333號同濟(jì)科技廣場1幢305室

課程講師：訊技光電高級工程師

課程費(fèi)用：4200RMB （包含課程材料費(fèi)、開票稅金、午餐費(fèi)用） 

課程簡介

20世紀(jì)70年代以來，隨著軍事、地質(zhì)、測繪、環(huán)境、資源、以及宇宙探索等各項(xiàng)領(lǐng)域里越來越多地對高性能空間光學(xué)儀器的需求，雜散光問題逐漸變的重要起來，促使人們投入大量的人力物力重新開始研究一度被忽視而直接影響成像質(zhì)量的雜散光問題。雜散光是指到達(dá)光學(xué)系統(tǒng)像面的非成像光，它對光學(xué)系統(tǒng)的影響是非常有害的，其直接影響表現(xiàn)在降低像面的對比度，降低像面的信噪比，并且可能會在像面產(chǎn)生光斑，直接導(dǎo)致像質(zhì)下降，在某些情況下甚至?xí)��?dǎo)致系統(tǒng)失效，從20世紀(jì)20年代人們就開始了對雜散光的研究，特別是近20年的，雜光理論和雜光問題研究要從以下幾個方面探索：雜散光輻射理論，系統(tǒng)雜光測試，雜光分析與軟件，BSDF數(shù)據(jù)，雜光抑制設(shè)計(jì)等。

本課程介紹了空間光學(xué)系統(tǒng)的雜散光來源，以及對紅外光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的影響，在簡化分析上，討論了雜散光分析的物理模型，利用已有的光學(xué)系統(tǒng)模型討論了雜散光計(jì)算和分析方法。用具體的模型說明雜散光分析和計(jì)算假設(shè)條件，為以后利用軟件進(jìn)行雜散光分析打下基礎(chǔ)。

課程大綱

1. 雜散光術(shù)語

雜散光路徑

關(guān)鍵面和照明面

In-field 和 out-of-field 雜光

內(nèi)部和外部雜散光

雜散光控制”Move It 、Block It 、Paint/Coat It 、Clean It”

2. 基本輻射度量學(xué)-輻射

輻射度量學(xué)術(shù)語

□光通量、功率、光度學(xué)與輻射度量學(xué)

□立體角與投射立體角/亮度/強(qiáng)度/BSDF/

PST(點(diǎn)源透射比)

探測器FOV（反向光線追跡）

面紗眩光指數(shù)（VGI）

系統(tǒng)自發(fā)熱輻射的計(jì)算及分析步驟

冷反射效應(yīng)的分析與控制