CODE V是成像系統(tǒng)工程設(shè)計軟件,以序列方式處理幾何光學問題,綜合性涵蓋了廣泛的光學結(jié)構(gòu)與計算,提供全方位設(shè)計、公差、價格、制造與組合的光學設(shè)計平臺。
CODE V中的差分光追跡(上)
在幾何光學中,差分光線追跡是廣為人知的技巧,并有許多的應用。這篇文章將給出差分光線追跡的定義,并介紹其在Code V中的相關(guān)應用。
為了了解差分光線數(shù)據(jù),考慮一道如圖一所示的光。這道光的差分光線數(shù)據(jù)可用來(近似地)決定所有靠近這道基底光線的光之型態(tài),圖二對這樣的情形做了說明。圖中也顯示出一道靠近基底光線的光。在物空間中,此光線相對于基底光線的改變量分別以δr與δu標示,而對于像空間的改變量,則以δr'與δu'標示。在考慮基底光線差分光線數(shù)據(jù)的情形下,那些空間上靠近的光線,其型態(tài)可以藉由線性近似決定: 系數(shù)A、B、C和D代表的是給定基底光線的差分光線信息。值得注意的是,通常會需要兩個量去說明光線的位置(例如:在一些平面上的X和Y坐標),另外兩個量去說明方向,因此,通常A、B、C和D不會是純量,而是 矩陣。 透過差分光線信息,不但可以知道單一光線的動向,也可以知道在此基底光線的周圍光線的行為,而不用再對這些光線進行追跡,如圖三所示。 另外,差分光線信息的定義通常會包含某些可以從A、B、C和D輕易推導出來的信息,例如基底光線與周圍光線的光線長度變化。另一種擴展差分光線追跡定義的方法會在之后的公差章節(jié)部分討論。 圖三、透過差分光線信息,可以求得基底光線周圍的光線行為,而不需要追跡額外的光線。 下一章將討論三種以差分光線信息簡化計算的應用,接著對計算差分光線信息(也就是系數(shù)A、B、C和D)的方法進行簡單的說明。
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