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  • 西安工業(yè)大學(xué)光學(xué)工程學(xué)科博士研究生招生學(xué)科介紹

    作者:佚名 來源:西安工業(yè)大學(xué) 時(shí)間:2014-05-19 11:54 閱讀:3619 [投稿]
    西安工業(yè)大學(xué)光學(xué)工程學(xué)科創(chuàng)立于1955年,1993年獲批招收“軍用光學(xué)”碩士研究生,1998年學(xué)科更名為“光學(xué)工程”,并被確定為陜西省重點(diǎn)學(xué)科。

    目前,光學(xué)學(xué)科擁有教學(xué)科研用房面積約8000m2,擁有微加工實(shí)驗(yàn)室、薄膜實(shí)驗(yàn)室、光學(xué)加工及測試實(shí)驗(yàn)室、靶場光電測試實(shí)驗(yàn)室等實(shí)驗(yàn)室,實(shí)驗(yàn)室各類儀器設(shè)備總價(jià)值達(dá)到6000余萬元。

    科研方向及研究成果

    方向一:微光電器件制造技術(shù)與應(yīng)用

    以劉衛(wèi)國教授為學(xué)術(shù)帶頭人的微光電器件制造技術(shù)與應(yīng)用研究群體,以“集成非制冷熱成像探測器件”為研究對象,提出基于熱釋電和測輻射熱計(jì)效應(yīng)的微橋陣列探測器件的薄膜轉(zhuǎn)移混合集成新方法,實(shí)現(xiàn)了45μm單元、160120陣列探測器件的制造,突破了集成制造過程中因工藝溫度過高所帶來的讀出電路破壞的技術(shù)瓶頸;在國內(nèi)率先提出基于聚合物旋光熱效應(yīng)的全新光學(xué)讀出熱成像探測器結(jié)構(gòu)及制造方法,突破了640480以上規(guī)模陣列探測器件制造的關(guān)鍵技術(shù)。

    在“微納米結(jié)構(gòu)制造與檢測技術(shù)”的研究中,研究了用于支撐微傳感器制造及成像探測微光學(xué)元件的微納米制造新技術(shù)。在歐盟國際合作項(xiàng)目等支持下,提出采用激光多光束干涉光刻結(jié)合HDMS軟印章壓印與低能離子束刻蝕實(shí)現(xiàn)紅外光學(xué)表面復(fù)雜微納米結(jié)構(gòu)的復(fù)制制造,為納米微結(jié)構(gòu)的紅外成像應(yīng)用提供了新方法;提出將數(shù)字全息顯微技術(shù)引入到三維微結(jié)構(gòu)檢測中,在國內(nèi)首次實(shí)現(xiàn)了微光學(xué)及陣列光學(xué)、光電元件幾何和光學(xué)參數(shù)的綜合測量。

    近五年,先后獲得國防973、解放軍總裝備部光電專項(xiàng)、國家國防科工局基礎(chǔ)科研、歐盟合作計(jì)劃、國家自然科學(xué)基金和省市重大專項(xiàng)的資助,授權(quán)發(fā)明專利11項(xiàng),省級(jí)科技獎(jiǎng)勵(lì)4項(xiàng),成果在《Materials Chemistry and Physics》、《Journal of the American Ceramic Society》等上發(fā)表。

    方向二:薄膜與等離子體技術(shù)

    以蘇俊宏、杭凌俠等教授為學(xué)術(shù)帶頭人的研究群體,在解放軍總裝備部和兵器集團(tuán)的資助下,針對武器裝備中對紅外光學(xué)薄膜器件的特殊要求,率先在國內(nèi)將離子束及等離子體技術(shù)引入到光學(xué)薄膜的制備中,先后研制出脈沖等離子體源、非平衡磁控濺射裝置、等離子體增強(qiáng)霍爾源、雙束濺射離子源等多種等離子體發(fā)生裝置,開發(fā)出高性能薄膜,成果在國內(nèi)廣泛應(yīng)用。

    近5年,承擔(dān)解放軍總裝備部項(xiàng)目6項(xiàng),國家自然基金項(xiàng)目3項(xiàng),獲各類省部級(jí)科技獎(jiǎng)勵(lì)3項(xiàng),在科技部和陜西省的資助下,完成了“離子鍍膜技術(shù)研究”、“高頻等離子體源開發(fā)與應(yīng)用”等5項(xiàng)國際科技合作項(xiàng)目;承辦了第一屆“光學(xué)薄膜前沿”國際學(xué)術(shù)研討會(huì)。

    方向三:光學(xué)加工與檢測技術(shù)

    以田愛玲、韓軍等教授為學(xué)術(shù)帶頭人的研究群體,在中大口徑超精密低損耗光學(xué)元件的加工與檢測領(lǐng)域積累了豐富的研究成果。在國內(nèi)率先研制出相移式橫向剪切非球面干涉測量裝置,解決了非球面測量中條紋判讀難題;提出了基于橫向剪切干涉的大口徑非球面子孔徑拼接測量技術(shù),突破了大口徑非球面檢測瓶頸;

    在國內(nèi)首次將激光共焦和層析技術(shù)引入到表面缺陷與亞表面損傷測量中,研制出光學(xué)亞表面損傷檢測設(shè)備,實(shí)現(xiàn)了光學(xué)元件制造過程中亞表面損傷層的非破壞定量測量。

    獲國家發(fā)明專利15項(xiàng),獲國家科技進(jìn)步獎(jiǎng)1項(xiàng),各類省部級(jí)科技獎(jiǎng)4項(xiàng),編著《現(xiàn)代光學(xué)制造技術(shù)》、《光干涉測試技術(shù)》和《光學(xué)手冊(光學(xué)冷加工部分)》,譯著《非球面光學(xué)元件的先進(jìn)制造和應(yīng)用技術(shù)》。

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