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  • LED芯片壽命試驗(yàn)意義解析

    作者:佚名 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 時(shí)間:2012-07-17 21:54 閱讀:1401 [投稿]
    LED具有體積小,耗電量低、長(zhǎng)壽命環(huán)保等優(yōu)點(diǎn),在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過(guò)程中,需要通過(guò)壽命試驗(yàn)對(duì)LED芯片的可靠性水平進(jìn)行*價(jià),并通過(guò)質(zhì)量反饋來(lái)提高LED芯片的可靠性水平,以保證LED芯片質(zhì)量。
       3.3樹(shù)脂劣變對(duì)壽命試驗(yàn)的影響

        現(xiàn)有的環(huán)氧樹(shù)脂封裝材料受紫外線照射后透明度降低,是高分子材料的光老化,是紫外線和氧參與下的一系列復(fù)雜反應(yīng)的結(jié)果,一般認(rèn)為是光引發(fā)的自動(dòng)氧化過(guò)程。樹(shù)脂劣變對(duì)壽命試驗(yàn)結(jié)果的影響,主要體現(xiàn)1000小時(shí)或以上長(zhǎng)期壽命試驗(yàn),目前只能通過(guò)盡可能減少紫外線的照射,來(lái)提高壽命試驗(yàn)結(jié)果的果客觀性和準(zhǔn)確性。今后還可通過(guò)選擇封裝材料,或者檢定出環(huán)氧樹(shù)脂的光衰值,并將其從壽命試驗(yàn)中排除。

        3.4封裝工藝對(duì)壽命試驗(yàn)的影響

        封裝工藝對(duì)壽命試驗(yàn)影響較大,雖然采用透明樹(shù)脂封裝,可用顯微鏡直接觀察到內(nèi)部固晶、鍵合等情況,以便進(jìn)行失效分析,但是并不是所有的封裝工藝缺陷都能觀察到,例如:鍵合焊點(diǎn)質(zhì)量與工藝條件是溫度和壓力關(guān)系密切,而溫度過(guò)高、壓力太大則會(huì)使芯片發(fā)生形變產(chǎn)生應(yīng)力,從而引進(jìn)位錯(cuò),甚至出現(xiàn)暗裂,影響發(fā)光效率和壽命。引線鍵合、樹(shù)脂封裝引人的應(yīng)力變化,如散熱、膨脹系數(shù)等都是影響壽命試驗(yàn)的重要因素,其壽命試驗(yàn)結(jié)果較裸晶壽命試驗(yàn)差,但是對(duì)于目前小功率芯片,加大了考核的質(zhì)量范圍,壽命試驗(yàn)結(jié)果更加接近實(shí)際使用情況,對(duì)生產(chǎn)控制有一定參考價(jià)值。

        4、壽命試驗(yàn)臺(tái)的設(shè)計(jì)

        壽命試驗(yàn)臺(tái)由壽命試驗(yàn)單元板、臺(tái)架和專用電源設(shè)備組成,可同時(shí)進(jìn)行550組(4400只)LED壽命試驗(yàn)。

        根據(jù)壽命試驗(yàn)條件的要求,LED可采用并聯(lián)和串聯(lián)兩種連接驅(qū)動(dòng)形式。并聯(lián)連接形式:即將多個(gè)LED的正極與正極、負(fù)極與負(fù)極并聯(lián)連接,其特點(diǎn)是每個(gè)LED的工作電壓一樣,總電流為ΣIfn,為了實(shí)現(xiàn)每個(gè)LED的工作電流If一致,要求每個(gè)LED的正向電壓也要一致。但是,器件之間特性參數(shù)存在一定差別,且LED的正向電壓Vf隨溫度上升而下降,不同LED可能因?yàn)樯釛l件差別,而引發(fā)工作電流If的差別,散熱條件較差的LED,溫升較大,正向電壓Vf下降也較大,造成工作電流If上升。雖然可以通過(guò)加入串聯(lián)電阻限流減輕上述現(xiàn)象,但存在線路復(fù)雜、工作電流If差別較大、不能適用不同VF的LED等缺點(diǎn),因此不宜采用并聯(lián)連接驅(qū)動(dòng)形式。

        串聯(lián)連接形式:即將多個(gè)LED的正極對(duì)負(fù)極連接成串,其優(yōu)點(diǎn)通過(guò)每個(gè)LED的工作電流一樣,一般應(yīng)串入限流電阻R,如圖二為單串電路,當(dāng)出現(xiàn)一個(gè)LED開(kāi)路時(shí),將導(dǎo)致這串8個(gè)LED熄滅,從原理上LED芯片開(kāi)路的可能性極小。我們認(rèn)為壽命試驗(yàn)的LED,以恒流驅(qū)動(dòng)和串聯(lián)連接的工作方式為佳。采用常見(jiàn)78系列電源電路IC構(gòu)成的LED恒流驅(qū)動(dòng)線路,其特點(diǎn)是成本低、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、可靠性高;通過(guò)調(diào)整電位器阻值,即可方便調(diào)整恒流電流;適用電源電壓范圍大,驅(qū)動(dòng)電流較精確穩(wěn)定,電源電壓變化影響較小。我們以圖二電路為基本路線,并聯(lián)構(gòu)成壽命試驗(yàn)單元板,每一單元板可同時(shí)進(jìn)行11組(88只)LED壽命試驗(yàn)。

        臺(tái)架為一般標(biāo)準(zhǔn)組合式貨架,經(jīng)過(guò)合理布線,使每一單元板可容易加載和卸載,實(shí)現(xiàn)在線操作。專用電源設(shè)備,輸出為5路直流36V安全電壓,負(fù)載能力為5A,其中2路具有微電腦定時(shí)控制功能,可自動(dòng)開(kāi)啟或關(guān)閉,5路輸入、輸出分別指示,圖三為壽命試驗(yàn)臺(tái)系統(tǒng)接線圖。

        本壽命試驗(yàn)臺(tái)設(shè)計(jì)方案的優(yōu)點(diǎn):

        [1].壽命試驗(yàn)電流準(zhǔn)確、可調(diào)、恒定;

        [2].具有微電腦定時(shí)控制功能,可自動(dòng)開(kāi)啟或關(guān)閉;

        [3].可同時(shí)適用不同VF的LED,而不必另外調(diào)整;

        [4].采用單元組合結(jié)構(gòu),可隨時(shí)增加壽命試驗(yàn)單元,實(shí)現(xiàn)在線操作;

        [5].采用低壓供電,保障安全性能。
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